高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），全面确保操作人员人身安全，避免意外操作带来的辐射伤害

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分 析 范 围: 1PPM-99.99

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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快速/坚固/可靠，超一流的分析工具，表现更出色！X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析，适用于恶

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更快！更轻！更小！微合金钢的质量控制/保证精确的铝和镁合金分析痕量元素分析低含量铬分析，流动加速腐蚀(FAC)检测检查管道和焊接是否耐腐蚀鉴别细至1毫米直径的线材只需要几秒钟测量的表面温度高可达400℃（仅限 X-MET7000）

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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全面应对制药行业铬（Cr）含量的快速测试，由于铬（Cr）元素荧光光子能量(5.4KeV)在非金属材质中能够很好的被激发。其他元素对铬（Cr）元素影响较小。因而能够比较准确的测试出非金属中的铬（Cr）含量。

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